放射科CCD和平板DR性能

? 平板是采用平面數(shù)字矩陣探測(cè)器，把X線能量直接轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像數(shù)據(jù)，經(jīng)計(jì)算機(jī)后在監(jiān)視器上顯示。

? CCD是是將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成視頻信號(hào)，經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后形成數(shù)字圖像信號(hào)。

? CCD轉(zhuǎn)換的視頻信號(hào)，在提高空間分辨率，改善信噪比和減少偽影等方面有優(yōu)勢(shì)，漸漸在取代真空攝像管~~

? 平板探測(cè)器X線的散射減少，失銳大為降低，時(shí)間分辨率提高，細(xì)節(jié)上提高診斷需要

? CCD通過X光和可見光的轉(zhuǎn)換再由電子器件采集，填充效率很高，X光的有效利用率高

? CCD 探測(cè)器具有輻射防護(hù)保護(hù)措施，可以避免長(zhǎng)期X光輻射造成元器件jpervcdfl的致命損傷

? 所有的圖像信息的采集由信噪比決定,即信噪比越高越好。

? 對(duì)溫度要求不大， 范圍為： －40－55度

? 對(duì)運(yùn)輸要求不高，結(jié)構(gòu)一般具有精密器件保護(hù)和抗震動(dòng)性能

? 采購(gòu)成本和維護(hù)成本都很低

? 采用精密部件結(jié)合結(jié)構(gòu)，各種功能單元均可單獨(dú)拆卸維修，可大幅度降低維修費(fèi)用

? 平板靠TFT來采集X光產(chǎn)生的電子，在X光照射時(shí)，F(xiàn)PD系統(tǒng)會(huì)降低X光的采集率來降低射線對(duì)電子元器件的傷害從而延長(zhǎng)使用時(shí)間，這樣就降低了X光的填充效率，只有50－64％

? 在長(zhǎng)期輻射下，會(huì)對(duì)電子器件造成不可逆轉(zhuǎn)的腐蝕效應(yīng)損傷，對(duì)圖像也會(huì)形成壞點(diǎn)，2-3年需要更換，維護(hù)成本高

? 對(duì)溫度有嚴(yán)格要求，低于+10℃和超出35溫度范圍時(shí)極易使FPD結(jié)晶，造成成像區(qū)域不可修復(fù)的壞點(diǎn)，溫超越大，壞點(diǎn)形成越快。

? 對(duì)運(yùn)輸要求很嚴(yán)格，需要嚴(yán)密的包裝和穩(wěn)定的運(yùn)輸環(huán)境